Jeszcze tylko do końca sierpnia trwa rejestracja na Międzynarodową Konferencję Metrologiczną „New Trends in Metrology 2024”, która odbędzie się w dniach 16–18 września w Kielcach. Wsród dyskutowanych tematów m.in. wzorce jednostek miar, szacowanie niepewności pomiarowej, ocena dokładności pomiaru i nowe technologie cyfrowe w pomiarach.
To druga edycja wydarzenia, którego organizatorem jest Polska Unia Metrologiczna, a partnerami wspomagającymi Politechnika Lubelska i Główny Urząd Miar. Do Kielc przyjedzie blisko 140 specjalistów metrologii m.in. z Polski, Włoch, Słowacji, Chorwacji, Czech i Ukrainy. W programie przewidziano specjalistyczne sesje tematyczne, w tym także plakatową.
Tematyka tegorocznej konferencji obejmuje najważniejsze obszary współczesnej metrologii, m.in. wzorce jednostek miar, szacowanie niepewności pomiarowej, ocenę dokładności pomiaru, metrologię prawną, pomiary w medycynie, nowe kierunki w metrologii, technologie cyfrowe w pomiarach. Ponadto będzie mowa o przetwarzaniu dużych zbiorów danych (Big Data), co umożliwia bardziej precyzyjne i dokładne pomiary oraz efektywne wykorzystanie ich wyników. Nie zabraknie zagadnień z zakresu technologii laserowych czy tomografii komputerowej w pomiarach, które oferują niespotykaną dotąd precyzję i szybkość, co jest kluczowe w wielu branżach, od medycyny po inżynierię.
Uczestnicy dokonają również oceny wpływu metrologii na gospodarkę oraz przedyskutują tematy związane z systemami pomiarowymi i transmisją danych. Będą rozmawiać o metrologii optycznej i fonicznej, a także poświęcą uwagę pomiarom geodezyjnym i budowlanym. Poruszone zostaną też zagadnienia z zakresu pomiaru czasu i częstotliwości oraz pomiarów radiometrycznych.
Wydarzenie uświetnią wystąpienia znakomitych prelegentów z zagranicy. Jako keynote speakerzy prelekcje wygłoszą: Miruna Dobre (kierownik badań oraz kierownik Laboratorium Termometrii w belgijskim Krajowym Instytucie Metrologii), prof. Luca de Vito (Uniwersytet Sannio w Benevento, Włochy), dr hab. inż. Zbigniew Humienny (Politechnika Warszawska), dr Piotr Sobecki (kierownik Laboratorium Stosowanej Sztucznej Inteligencji oraz Centrum Innowacji dla Medycyny Cyfrowej w Ośrodku Przetwarzania Informacji), dr Aime Lay Ekuakille (Uniwersytet w Salento, Włochy), prof. Beata Godlewska-Żyłkiewicz (kierownik Katedry Chemii Analitycznej i Nieorganicznej na Wydziale Chemii Uniwersytetu w Białymstoku), Harald W. Scholz (SMARTEN).
Jednym z wydarzeń towarzyszących będzie wizyta w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym GUM. To nowoczesny ośrodek badawczo-rozwojowy, który oferuje warunki do współpracy pomiędzy profesjonalną i innowacyjną metrologią laboratoryjną a gospodarką. Nowo otwarty Kampus jest wyposażony w najnowocześniejszą infrastrukturę pomiarową i zapewnia dokładność pomiarów na najwyższym wymaganym poziomie. Powstał we współpracy z Politechniką Świętokrzyską.
Rejestracja na „New Trends in Metrology 2024” trwa do końca sierpnia! Szczegółowe informacje, w tym program, na stronie internetowej wydarzenia. Patronat medialny nad konferencją sprawuje „Forum Akademickie”.
AST
