Gospodarka wodorowa, sztuczna inteligencja, radiolokacja pasywna, obrazowanie 2D i 3D, technologie laserowe, biomechanika stawu biodrowego – to tylko część zagadnień, które zostaną poruszone podczas trzeciej międzynarodowej konferencji „New Trends in Metrology”. Wydarzenie odbędzie się w dniach 26–28 października w Kielcach. Patronem medialnym jest „Forum Akademickie”.
Konferencja organizowana jest w ramach działalności Polskiej Unii Metrologicznej, koordynowanej przez Politechnikę Lubelską. W Kielcach spotkają się przedstawiciele środowiska naukowego, instytucji publicznych oraz przemysłu, aby rozmawiać o najnowszych kierunkach rozwoju metrologii i jej roli w dynamicznie zmieniającym się świecie.
W programie, obok zagadnień związanych z nowoczesnymi metodami pomiarowymi, znalazły się takie tematy, jak: Big Data, uczenie maszynowe, sztuczna inteligencja, technologie laserowe oraz automatyzacja pomiarów w Przemyśle 5.0.
Wśród zaproszonych keynote speakerów jest prof. Michał Wieczorowski, który wygłosi wykład poświęcony metrologicznym aspektom gospodarki wodorowej.
O nowych kierunkach rozwoju radiolokacji pasywnej opowie prof. Piotr Samczyński, autor wystąpienia „New Frontiers in Modern Passive Radars”. Z kolei prof. Małgorzata Kujawińska przedstawi zagadnienia związane z metrologią w ilościowym obrazowaniu fazowym 2D i 3D.
Gościem konferencji będzie również dr Mikko Merimaa, Sekretarz Generalny EURAMET – Europejskiego Stowarzyszenia Krajowych Instytutów Metrologicznych. W wykładzie „European Metrology Agenda for the next decade” przedstawi najważniejsze zagadnienia związane z rozwojem europejskiej metrologii w perspektywie najbliższych lat.
Interdyscyplinarny charakter wydarzenia podkreśli także wystąpienie Alessandro Ruggiero, poświęcone modelowaniu biotribologicznemu i biomechanicznemu w całkowitej alloplastyce stawu biodrowego, z uwzględnieniem topografii powierzchni kontaktowych.
Program „New Trends in Metrology 2026” obejmuje wykłady plenarne, sesje tematyczne, prezentacje wyników badań oraz sesję plakatową. Uczestnicy odwiedzą też Świętokrzyski Kampus Laboratoryjny Głównego Urzędu Miar w Kielcach, gdzie będą mieli możliwość zobaczenia nowoczesnych laboratoriów oraz aparatury wykorzystywanej przez GUM w działalności badawczej i pomiarowej.
Międzynarodowa konferencja „New Trends in Metrology 2026” odbędzie się w dniach 26–28 października w Kielcach. Rejestracja trwa jeszcze tylko do 30 września! Program i formularz zgłoszeniowy dostępne są na stronie internetowej wydarzenia.
MK